Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий / М.И.Горлов, В.А.Емельянов, Д.Л.Ануфриев

Автор(ы): Горлов, М. И.;
                   Емельянов, В. А.;
                   Ануфриев, Д. Л.Язык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Минск : Бел. наука, 2006Физическая характеристика: 366, [1] с.ББК: 32.843.3 ; 47.14.07Note(s): 300 экз.; Библиогр.: с. 352-362 (177 назв.).Предметная категория: Белорусский национальный документ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
Минская областная библиотека. Читальный зал
Выдается

300 экз.

Библиогр.: с. 352-362 (177 назв.)

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: