000 01376cam0 22003251ib4500
001 BY-MI0000-br56195
005 20211222123637.0
100 ^a20110401d1987 y0rusy50 ca
101 0 ^arus
102 ^aRU
105 ^aa z 000yy
200 1 ^aМетоды измерения параметров полупроводниковых материалов
^eУчеб. для вузов по спец. "Полупроводниковые и микроэлектрон. приборы"
^fПавлов Л.П.
205 ^a2-е изд., перераб. и доп.
210 ^aМ.
^cВысш. шк.
^d1987
215 ^a239 с.
300 ^aЗагл. 1-го изд.: Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов.
610 0 ^aПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ
610 0 ^aПАРАМЕТРЫ
610 0 ^aВУЗЫ
610 0 ^aПАЎПРАВАДНІКОВЫЯ МАТЭРЫЯЛЫ
610 0 ^aВНУ
686 ^a31.233я73
^v2
^2rubbk
686 ^a45.09
^v4
^2rugasnti
690 ^a1
^2Base
^9BY-MI0000
^xRSEK
700 1 ^aПавлов
^bЛ. П.
801 0 ^aBY
^bBY-MI0000
^c20110401
^gpsbo
801 2 ^aBY
^bBY-MI0000
^c20190320
^gpsbo
899 ^aBY-MI0000
^h31.233я73
^iП 12