000 | 01376cam0 22003251ib4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BY-MI0000-br56195 | ||
005 | 20211222123637.0 | ||
100 | ^a20110401d1987 y0rusy50 ca | ||
101 | 0 | ^arus | |
102 | ^aRU | ||
105 | ^aa z 000yy | ||
200 | 1 |
^aМетоды измерения параметров полупроводниковых материалов ^eУчеб. для вузов по спец. "Полупроводниковые и микроэлектрон. приборы" ^fПавлов Л.П. |
|
205 | ^a2-е изд., перераб. и доп. | ||
210 |
^aМ. ^cВысш. шк. ^d1987 |
||
215 | ^a239 с. | ||
300 | ^aЗагл. 1-го изд.: Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов. | ||
610 | 0 | ^aПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ | |
610 | 0 | ^aПАРАМЕТРЫ | |
610 | 0 | ^aВУЗЫ | |
610 | 0 | ^aПАЎПРАВАДНІКОВЫЯ МАТЭРЫЯЛЫ | |
610 | 0 | ^aВНУ | |
686 |
^a31.233я73 ^v2 ^2rubbk |
||
686 |
^a45.09 ^v4 ^2rugasnti |
||
690 |
^a1 ^2Base ^9BY-MI0000 ^xRSEK |
||
700 | 1 |
^aПавлов ^bЛ. П. |
|
801 | 0 |
^aBY ^bBY-MI0000 ^c20110401 ^gpsbo |
|
801 | 2 |
^aBY ^bBY-MI0000 ^c20190320 ^gpsbo |
|
899 |
^aBY-MI0000 ^h31.233я73 ^iП 12 |